Dienstleistungen
Oberflächenanalytik
Untersuchungen der Eigenschaften von Oberflächen und dünnen Schichten – Morphologie, chemische Zusammensetzung, Kristallstruktur und weitere Eigenschaften – mit einem umfangreichen Methodenspektrum.
Rasterelektronenmikroskop (REM)
REM
Energie Dispersive Analysis of X-Ray (EDAX)
EDAX
Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
TEM
Röntgenfluoreszenz-Spektrometer (RFA)
RFA
Röntgendiffraktometer (XRD)
XRD
Fourier-Transform-Infrarotspektrometer (FT-IR)
FT-IR
Massenspektrometer
MS
Digitale Lichtmikroskopie
LM
Batterieerprobungs- und Simulationseinrichtung
BAT
Piezo Hochdrucksprüheinrichtung für Flüssigsilan
PZ
Rheometer zur Bestimmung der Viskosität
RH
Sputteranlage
SP
Glovebox
GB
Hochtemperaturofen
HTO